日本放射光学会誌 |
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【表紙の説明】 九谷古陶磁伝世品の高エネルギー蛍光X線分析の様子。 重元素組成はもともとの原料の産地を反映させやすいため、産地推定の指標として用いられる。 従来行われている中性子放射化分析では、試料が放射化されるため、美術品としての価値のある貴重な伝世品そのものの識別は不可能であった。 本法は写真の通り、非破損であり、試料へのダメージも与えないことから、謎につつまれた古九谷の産地に関して、一つの指針を与えるものである。 測定はSPring-8 BL08Wで行われ、伝世品の移動に際しては高額の保険金がかけられた。 |
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| *高エネルギー蛍光 X 線分析・・・・・寺田靖子,中井泉(p.323)（7ページ、1316k） | |||
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| *高輝度放射光によるタンパク質結晶構造解析の現状と問題点・・・・・河本正秀、酒井久伸、井田孝、上野剛、山本雅貴(p.330)（9ページ、2320k） | |||
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| *非共鳴 X 線磁気散乱における新規偏光解析手法—可変散乱面法—・・・・・大隅寛幸、高田昌樹(p.338)（6ページ、1045k） | |||
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| *【放射光源シリーズ１１】共振器型自由電子レーザー・・・・・保坂将人(p.344)（4ページ、406k） | |||
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| ・ | 第１８回放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウムプログラム(p.348)（4ページ、2461k） | ||
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